Santec 圣德科 ILM-100 插损测试仪
一体化操作的紧凑台式仪器
•USB和以太网接口
•可用于测井测量的测试软件OPL-CLX
•全自动单波长和双波长插入损耗测量
•可提供具有定义发射条件的多模仪器(EF、AS100、70/70等)
•各种探测器选项
•可定制的来源和光纤类型
•可互换的适配器接口
ILM-100设计用于快速准确地测量光纤元件的插入损耗。该系统有一个内置的用于单模应用的稳定激光源或用于多模应用的LED源。带有双重波长配置,可以在不到1秒的时间内测量两个波长的插入损耗。ILM-100系统配备了USB和以太网控制,便于集成到测试系统中。
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