精确的回损测试

• 自校准

• 机箱模块化

• 无线集成积分球

• 无需电脑

• 可用于生产自动化

• 可进行条形码控制

• 可对应XN1

Santec的插回损测试仪（RLM-100）汇集了20年作为电缆组件测试市场领导者的行业反馈。该设备代表了下一代光学IL/RL测量技术。对关键硬件组件的改进使其在保持相同精度的同时，测试速度比其他高端测试解决方案快两倍。

一种新的专利校准方法允许用户进行自校准，并能够以更高的精度测量单模反射损耗，最高可达85 dB。由于其前面板触摸屏和易于使用的软件，RLM-100非常适合生产和实验室环境。

重新设计的积分球探测器可以一次性连接测量密集的72通道MTP/MPO和双工LC连接器的反射损耗。专利的SD滑入式探测器适配器提供了极致的便捷使用体验。