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Oeabt    基座光学     TSX-ZL    纵向升降台
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Oeabt    基座光学     TSX-ZL    纵向升降台


产品说明

交叉滚柱导轨,测微头驱动将平面进行Z轴升降;

纵向行程:8.5mm;

台面尺寸:63*63mm,螺孔阵列;

模块化设计,可进行 X、XY 或 XYZ 配置堆叠;

M6沉孔可安装到公/英制的光学平台上;

TSX-ZL纵向升降台具有8.5mm的高度调节范围,台面高度从37.5mm到46mm。


型号TSX-ZL
规格63.0*63.0*37.5mm(不含测微头)
台面尺寸
63.0*63.0mm
行程范围
8.5mm
精度
10μm/刻度(测微头最小读数)
负载能力
4kgf
螺孔类型
M4*4处,M6*9处,M6*4处(沉头孔)
重量
285.1g
材质
7075铝合金


示意图 通用参数

TSX-ZL 纵向升降台

交叉滚柱导轨,测微头驱动将平面进行Z轴升降;

纵向行程:8.5mm;

台面尺寸:63*63mm,螺孔阵列;

模块化设计,可进行 X、XY 或 XYZ 配置堆叠;

M6沉孔可安装到公/英制的光学平台上;

位移台可以通过拧紧侧面的锁定旋钮来锁定位置。采用交叉滚柱轴承来支持运动负载,同时主体由铝板阳极氧化而成,大程度地消除了内部应力,提高了稳定性。




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