Dali technology 大立科技 DLD650 平面探测器
技术参数
| 型号 | DLD650 |
| 敏感材料 | 非晶硅 |
| 阵列规模 | 640×512 |
| 像元间距 | 17μm |
| 光谱范围 | 8μm～14μm |
| 控温 | TEC |
| 帧频 | ≤60Hz |
| NETD(f/1,300K,50Hz) | ≤45mK |
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| 可操作率 | ≥99.5% |
| 功耗（不含TEC） | 220mW |
| 外形尺寸mm（不含引脚等） | 32×23.5×7.1 |
| 重量 | ≤20g |
| 工作温度范围 | -40℃～+85℃ |
| 贮存温度范围 | -40℃～+85℃ |
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