Dali technology 大立科技 DLE1920 平面探测器
技术参数
型号 | DLE1920/15μm |
敏感材料 | 非晶硅 |
阵列规模 | 1920×1080 |
像元间距 | 15μm |
光谱范围 | 8μm~14μm |
控温 | TEC |
帧频 | 60Hz |
NETD(f/1,300K,50Hz) | ≤50mK |
可操作率 | ≥99.5% |
功耗(不含TEC) | 650mW |
外形尺寸mm(不含引脚等) | 40×42.5×8.6 |
重量 | 45g |
工作温度范围 | -40℃~+85℃ |
贮存温度范围 | -40℃~+85℃ |
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