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zolix     卓立汉光    OmniFluo-FLIM   成像系统
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zolix     卓立汉光    OmniFluo-FLIM   成像系统


OmniFluo-FLIM系列显微荧光寿命成像系统参数配置

北京卓立汉光仪器有限公司提供的显微荧光寿命成像系统是基于显微和时间相关单光子计数技术,配合高精度位移台得到微观样品表面各空间分布点的荧光衰减曲线,再经过用数据拟合,得到样品表面发光寿命表征的影像。是光电半导体材料、荧光标记常用荧光分子等类似荧光寿命大多分布在纳秒、几十、几百纳秒尺度的物质的不二选择。

参数指标:

系统性能指标

光谱扫描范围

200-900nm

*小时间分辨率

16ps

荧光寿命测量范围

500ps-1μs@ 皮秒脉冲激光器

空间分辨率

≤1μm@100X 物镜@405nm 皮秒脉冲激光器

荧光寿命检测IRF

≤2ns

配置参数

激发源及匹配光谱范围

(光源参数基于

50MHz 重复频率)

375nm 皮秒脉冲激光器,脉宽:30ps,平均功率1.5mW,荧光波段:400-850nm

405nm 皮秒脉冲激光器,脉宽:25ps,平均功率2.5mW,荧光波段:430-920nm

450nm 皮秒脉冲激光器,脉宽:50ps,平均功率1.9mW,荧光波段:485-950nm

488nm 皮秒脉冲激光器,脉宽:70ps,平均功率1.3mW,荧光波段:500-950nm

510nm 皮秒脉冲激光器,脉宽:75ps,平均功率1.1mW,荧光波段:535-950nm

635nm 皮秒脉冲激光器,脉宽:65ps,平均功率4.3mW,荧光波段:670-950nm

660nm 皮秒脉冲激光器,脉宽:60ps,平均功率1.9mW,荧光波段:690-950nm

670nm 皮秒脉冲激光器,脉宽:40ps,平均功率0.8mW,荧光波段:700-950nm

科研级正置显微镜

落射明暗场卤素灯照明,12V,100W

5 孔物镜转盘,标配明场用物镜:10×,50×,100×

监视CCD:高清彩色CMOS 摄像头,像元尺寸:3.6μm*3.6μm,

有效像素:1280H*1024V,扫描方式:逐行,快门方式:电子快门

电动位移台

高精度电动XY 样品台,行程:75*50mm(120*80mm 可选),

*小步进:50nm,重复定位精度:< 1μm

光谱仪

320mm 焦距影像校正单色仪,双入口、狭缝出口、CCD 出口,

配置三块68×68mm 大面积光栅,波长准确度:±0.1nm,

波长重复性:±0.01nm,扫描步距:0.0025nm,焦面尺寸:30mm(w)×14mm(h),

狭缝缝宽:0.01-3mm 连续电动可调

探测器:制冷型紫外可见光电倍增管,光谱范围:185-900nm(标配,可扩展)

光谱CCD

(可扩展PLmapping)

低噪音科学级光谱CCD(LDC-DD),芯片格式:2000x256,

像元尺寸:15μm*15μ

m, 探测面:30mm*3.8mm,背照式深耗尽芯片,

低暗电流,*低制冷温度-60℃ @25℃环境温度,风冷,*高量子效率值>95%

时间相关单光子计数器(TCSPC)

时间分辨率:16/32/64/128/256/512/1024ps……33.55μs,死时间< 10ns,

*高65535 个直方图时间窗口,瞬时饱和计数率:100Mcps,支持稳态光谱测试;

OmniFluo-FM 荧光寿命成像专用软件

控制功能:控制样品平移台移动,通过显微镜的明场光学像定位到合适区域,

框选扫描区域进行扫描,逐点获得荧光衰减曲线,实时生成荧光图像等

数据处理功能:自动对扫描获得的FLIM 数据,逐点进行多组分荧光寿命拟合

(组分数小于等于4),对逐点拟合获得的荧光强度、荧光寿命等信息生成

伪彩色图像显示

图像处理功能:直方图、色表、等高线、截线分析、3D 显示等

操作电脑

品牌操作电脑,Windows 10 操作系统


FLIM 软件界面


控制测试界面

测试软件的界面遵循“All In One”的简洁设计思路,用户可在下图所示的控制界面中完成采集数据的所有步骤:包括控制样品平移台移动,通过显微镜的明场光学像定位到合适区域,框选扫描区域进行扫描,逐点获得荧光衰减曲线,实时生成荧光图像等。

数据处理界面

功能丰富的荧光寿命数据处理软件,充分挖掘用户数据中的宝贵信息。可自动对扫描获得的FLIM 数据,逐点进行多组分荧光寿命拟合(组分数小于等于4),对逐点拟合获得的荧光强度、荧光寿命等信息生成伪彩色图像显示。

自主开发的一套时间相关单光子计数(TCSPC)荧光寿命的拟合算法,可对荧光衰减曲线中*多包含4 个时间组分的荧光过程进行拟合,获得每个组分的荧光寿命,光子数比例,计算评价函数和残差。TCSPC 荧光寿命通常并非简单的指数衰减过程,而是与光源及探测器相关的仪器响应函数(IRF)与荧光衰减过程相互卷积的结果,因此适当的拟合方法和参数选择对获得正确可靠的荧光寿命非常重要。该软件可导入实际测量的IRF 对衰减曲线进行卷积计算和拟合。但是大多数情况下, IRF 很难正确的从实验获得,针对这种情况,软件提供了两种无需实验获取IRF 的拟合方法:

NO.1 通过算法对数据上升沿进行拟合,获得时间响应函数IRF,然后对整条衰减曲线进行卷积计算和拟合得到荧光寿命。

NO.2对于衰减时间远长于仪器响应时间的,可对衰减曲线下降沿进行直接的指数拟合。该软件经过大量测试,可以很好的满足各种场合的用户需求。

MicroLED 微盘的荧光强度像(3D 显示):

测试案例





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