Oeabt 基座光学 TSX-ZL 纵向升降台
产品说明
• 交叉滚柱导轨,测微头驱动将平面进行Z轴升降;
• 纵向行程:8.5mm;
• 台面尺寸:63*63mm,螺孔阵列;
• 模块化设计,可进行 X、XY 或 XYZ 配置堆叠;
• M6沉孔可安装到公/英制的光学平台上;
TSX-ZL纵向升降台具有8.5mm的高度调节范围,台面高度从37.5mm到46mm。
型号 | TSX-ZL
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规格 | 63.0*63.0*37.5mm(不含测微头)
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台面尺寸
| 63.0*63.0mm
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行程范围
| 8.5mm
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精度
| 10μm/刻度(测微头最小读数)
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负载能力
| 4kgf
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螺孔类型
| M4*4处,M6*9处,M6*4处(沉头孔)
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重量
| 285.1g
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材质
| 7075铝合金
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示意图
通用参数
TSX-ZL 纵向升降台• 交叉滚柱导轨,测微头驱动将平面进行Z轴升降;
• 纵向行程:8.5mm;
• 台面尺寸:63*63mm,螺孔阵列;
• 模块化设计,可进行 X、XY 或 XYZ 配置堆叠;
• M6沉孔可安装到公/英制的光学平台上;
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位移台可以通过拧紧侧面的锁定旋钮来锁定位置。采用交叉滚柱轴承来支持运动负载,同时主体由铝板阳极氧化而成,大程度地消除了内部应力,提高了稳定性。
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