太阳能电池硅片检查显微镜55C-DCB可对太阳电池生产过程中每个环节产生的表面缺陷进行细微的检查和测量。不仅可以检查太阳能电池表面颜色色差，绒面色斑，亮斑，裂纹，穿孔，崩边，掉角，缺口，印刷偏移；主、副栅线、背电极的断线，缺损，扭曲，变色等缺陷。还可对杂质、残留物成分进行分析.杂质包括: 颗粒、有机杂质、无机杂质、金属离子、硅粉粉尘等，造成磨片后的硅片易发生变花、发蓝、发黑等现象，同时可以测量太阳能电池片裂纹长度，崩边长度角度，印刷位移角度偏差以及主、副栅线，背电极的宽度、均匀度，栅线间距离及副栅线到电池边的距离，栅线、断线长度，断线缺损和变色的面积等。系统配置了三目透反射金相显微镜XJ-55C、数字摄像头及图像测量管理软件，可对太阳能电池板图像进行检查、拍照、测量、编辑和保存输出等多种操作。
性能特点：
1、显微镜采用了无限远光路设计，使成像更清晰
2、配置了落射照明装置、视场光栏和孔径光栏、同时配有偏光装置
3、可以测量太阳能电池片裂纹长度，崩边长度角度，印刷位移角度偏差
4、可以测量主、副栅线，背电极的宽度、均匀度，栅线间距离及副栅线到电池边的距离，
栅线、断线长度，断线缺损和变色的面积
5、可以检查太阳能电池表面颜色色差，绒面色斑，亮斑，裂纹，穿孔，崩边，掉角，缺口，
印刷偏移主副栅线、背电极的断线，缺损，扭曲，变色等现象。
6、可对杂质、残留物成分进行分析.杂质包括: 颗粒、有机杂质、无机杂质、金属离子、硅粉粉尘等
