科研级三目正置金相显微镜XJ-52C适用于薄片试样的金相、矿相、岩相、晶体等结构分析和鉴别，电子芯片的检查或用于观察材料表面特性，如：划痕、裂纹、喷涂的均匀性等及纺织纤维、化学颗粒的分析研究。是金属学、矿物学、精密工程学、电子学等研究的理想仪器。总放大倍数：50X-800X
◆性能特点：
1、系统配置了大尺寸、大范围移动载物台，适合大工件的检查。
2、采用大视野目镜和长距平场物镜，视场宽阔、平坦,成像清晰。
3、采用“T”型防振结构设计，机械载物台可慢速或快速移动试样。
4、整机采用了防霉处理，保护了镜头，延长了仪器的使用寿命。
5、配置了偏光装置并可选配暗场、微分干涉装置，拓展了功能。。
6、两路光路自由切换输出，一路用于观察，一路连接摄像装置。
◆典型应用：
1、分析金属、矿相内部结构组织。2、电子厂PCB板、芯片检验。
3、观察材料表面的某些特性，如：划痕、裂纹、喷涂的均匀性。
